光画像粒子分析

光画像粒子分析 - HAVER CPA 材料品質の正確な測定

HAVER CPA測定器は、デジタル画像処理を使った装置です。高解像度のデジタル・ラインスキャンカメラを使い、LEDアレイ光源の前方を落下していくバルク材の粒をスキャン撮影して、最高28,000ライン/秒の周期でデータを記録します。
このラインライン画像をCPAで組み合わせて、連続した画像データにし、粒子が投映した影をリアルタイムで評価します。この処理を撮影と並行して実行します。(最大、毎秒10,000個の粒を検出、分析、カウント)

CPA CONVEYOR 測定プロセスは、細長い材料を分析するために開発され、スキャン撮影を行う前に、材料の粒を分散し、測定時に粒子の向きがばらつくのを予防します。

測定レンジ 10μm~400mmの範囲で各種HAVER CPAユニットを提供しています。全ユニットとも、オンライン操作に対応したハードウェアとソフトウェアを用意しています。