装置概要

PIDconは太陽光発電用モジュールに起こる電圧誘起出力低下現象（PID：Potential Induced Degradation）の評価・測定器です。フラウンホーファー研究機構シリコン太陽光発電研究センターの特許技術をもとに作られ、IEC62804規格をカバーしています。モジュールベースのPID試験と同等な試験環境をセル/ミニモジュールに対し与え、PID耐性を評価します。本装置により、これまでより低コストかつ短時間でPID耐性の評価が可能となります。

装置特長

• コンパクト設計（サイズ：300×350×208㎜）
• サンプルサイズ（156×156㎜、オプション：125×125mm)　
• 電圧選択0.1～１㎸
• ダークI-V測定
• 耐湿測定可能